設(shè)備：半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)ITC57300

廠商：ITC

用途：用于測(cè)試 Si/SiC/GaN基Diode,IGBT,MOSFET動(dòng)態(tài)交流參數(shù)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GJB 128B-20XX；IEC 60747-8-2010；MIL_STD_750F

技術(shù)指標(biāo)：
1200V/100A，短路電流2500A

測(cè)試功能單元：
C57210-R 開(kāi)關(guān)特性測(cè)試單元（阻性負(fù)載）
ITC57220 反向恢復(fù)特性測(cè)試單元
ITC57230 柵電荷特性測(cè)試單元（MOS）
ITC57240 開(kāi)關(guān)特性測(cè)試單元（感性負(fù)載）
ITC57250 短路特性測(cè)試單元

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